菲希尔涂镀层测厚仪FMP100/150

菲希尔涂镀层测厚仪FMP100/150

FMP100/150 凭借DUALSCOPE FMP100和FMP150,FISCHEER可提供高性能手持式测量仪器,用于zhuan业涂镀层厚度测量中各种要求严苛的任务。...
2019-03-10
<b>FISCHER菲希尔 XAN500涂层测厚仪</b>

FISCHER菲希尔 XAN500涂层测厚仪

手持式、台式、在线: XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能zui多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可...
2019-03-10
菲希尔涂层测厚仪PMP10/PMP10 Duplex

菲希尔涂层测厚仪PMP10/PMP10 Duplex

PMP10/PMP10 Duplex PMP10 与 PMP10 DUPLEX 采用相位敏感测量技术,适用于测量粗糙底材上的涂镀层厚度或钢上的镀镍层厚度。 对于汽...
2019-03-10
FISCHER涂层膜厚仪

FISCHER涂层膜厚仪

FMP10/40 FMP10FMP40 系列手持式涂镀层厚度测量设备可提供精确的测量结果,多种测量技术使其具有高度的灵活性。包括采用磁感...
2019-03-10
MP0/MP0R 菲希尔

MP0/MP0R 菲希尔

MP0/MP0R 系列 小巧、方便且稳固 MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的...
2019-03-10
<b>FISCHER菲希尔XAN涂层测厚仪</b>

FISCHER菲希尔XAN涂层测厚仪

XAN XAN系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层,即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比...
2019-03-10
FISCHER德国菲希尔GOLDSCOPE

FISCHER德国菲希尔GOLDSCOPE

GOLDSCOPE FISCHER通过GOLDSCOPE系列仪器,为无损的黄金和贵金属测试提供定制化解决方案。这些耐用的X射线荧光仪器,其软硬件均...
2019-03-10
<b>电解涂镀层测厚仪CMS2</b>

电解涂镀层测厚仪CMS2

CMS2 COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STE...
2019-03-10
PHASCOPE® PAINT-FISCHER德菲希尔

PHASCOPE® PAINT-FISCHER德菲希尔

PHASCOPE PAINT 这款方便,笔状的PHASCOPE PAINT是简单快速地测量铁基金属和有色金属上油漆涂层的理想方案。由于其测量范围达到...
2019-03-10
<b>FISCHER菲希尔SR-SCOPE® RMP30-S</b>

FISCHER菲希尔SR-SCOPE® RMP30-S

SR-SCOPE RMP30-S 该便携式设备采用 4 点电阻法,十分适合测量多层电路板上薄镀层的厚度。这种电路板上的多层铜镀层通常被环...
2019-03-10
<b>德国涂层测厚仪MMS PC2</b>

德国涂层测厚仪MMS PC2

MMSPC2 模块化测量系统FISCHERSCOPEMMSPC2,搭载WindowsCE操作系统,是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。设...
2019-03-10
<b>FISCHER菲希尔BETASCOPE</b>

FISCHER菲希尔BETASCOPE

BETASCOPE 在所有 FISCHER 测量仪器中,BETASCOPE 可提供zui多的涂镀层组合。通过 射线方法,BETASCOPE 无需依赖于样品的磁性或电特...
2019-03-10
德国菲希尔XUL / XULM

德国菲希尔XUL / XULM

XUL / XULM 在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL系列测量仪器是您的首选解决方案。X 射线荧光...
2019-03-10
德国菲希尔XDL / XDLM / XDAL

德国菲希尔XDL / XDLM / XDAL

XDL/XDLM/XDAL 凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供X射线源、滤波器...
2019-03-10
<b>FISCHER菲希尔XDV-SDD</b>

FISCHER菲希尔XDV-SDD

XDV-SDD XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能zui强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm的探测器窗...
2019-03-10
德国菲希尔XDV-μ镀层厚度测量仪

德国菲希尔XDV-μ镀层厚度测量仪

XDV- XDV-型系列仪器是专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束...
2019-03-10
<b>FISCHER X射线荧光分析仪XUV</b>

FISCHER X射线荧光分析仪XUV

XUV系列设备的真空测量室能够通过X射线荧光分析(RFA)检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射...
2019-03-10

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